光学Mag Adujestableの手動調査の場所によって専門にされるテスト装置

光学Mag Adujestableの手動調査の場所によって専門にされるテスト装置

Magの調査の場所マニュアルのadujestable調査の場所

調査の場所は半導体ウエハーの個々の部品の電気特性を測定するのに半導体工業で使用される専門にされたテスト装置である。それは基盤が付いているウエファーが置かれる、およびウエファーで部品が付いている接触をする一組の調査から成っている平面。

調査はテストされるべき部品に調査を正確に置くために手動でまたはコンピューター制御 システムを通して調節することができる移動可能な腕に取付けられる。調査はタングステンか他の伝導性材料から普通成り、直径の少数のミクロン小さい場合もある先端と非常に小さい。